Röntgenfluoreszenzanalyse, SFX von Schamotte | © CRB Analyse Service GmbH

Chamotte

Données clés sur la chamotte

  • Composition: Des produits réfractaires, constitués surtout par Al2O3 et SiO2.
  • Matières premières: Argile, kaolin (et leurs produits frittés), aluminosilicates, comme l‘andalousite, la sillimanite, la mullite ainsi que la bauxite frittée et le corindon.
  • Utilisation: Domaines d’utilisation de briques réfractaires, fumisterie, hauts fourneaux, fonderies d’usines sidérurgiques, fours à coke et à gaz, industrie du verre et du ciment

Types d’analyses pour l’analyse de chamotte 

  • Des programmes de mesure de tailles différentes pour la spectrométrie de fluorescence X de chamotte à base d’une fusion.
  • Analyse par screening portant sur 70 éléments au maximum
  • Analyses complémentaires

 

! À noter !

Pour exécuter une analyse conformément aux normes, nous avons besoin de matériel d’échantillonnage fin (<63 µm) et séché (105°C), destiné à l’analyse, ainsi que la valeur de la perte par calcination (LOI).

Nous proposons également d’autres services, comme la pulvérisation, le séchage et la détermination de la perte par calcination, conformément à la liste des prix SFX.

Analyse quantitative d’une fusion par la spectrométrie de fluorescence X

Analyse quantitative par spectrométrie de fluorescence X à base d’une fusion, portant sur 12, 16, 20, 30 ou 40 éléments, conformément aux normes DIN EN ISO 12677, DIN EN 15309, DIN EN 196-2. Procédé destiné à l’analyse d’échantillons oxydiques et oxydables constitués des plus diverses compositions, comme p. ex. le verre et les fibres de verre, les sols, les roches, les matières premières minérales, les matériaux de construction céramiques ou minéraux non-extractibles, et autres.


Dans ce procédé, l’échantillon est mélangé avec un fondant (tétraborate de lithium), fondé sous atmosphère oxydante, trempé comme pastille de verre homogène et analysé comme telle avec une précision élevée.

Prix de l'analyse de fluorescence X

Analyse par screening portant sur 71 éléments

Le logiciel de paramètres fondamentaux Omnian permet la SFX indépendante de la matrice, quantitative, semi-quantitative ou qualitative des échantillons inconnus dotés de caractéristiques matérielles et de compositions les plus diverses (inorganiques et organiques). Les échantillons peuvent être analysés sous forme préparée ou, en cas de composition (résistant aux rayons X et au vide !) et état de surface approprié, sans préparation préalable et de manière non destructive. Il est possible de déterminer des concentrations d’éléments entre la limite de détection (normalement 250 µg/g) et 100 %.

Prix de l'analyse de fluorescence X

Normes et directives pour la spectrométrie de fluorescence X, SFX, de chamotte

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 - Analyse chimique des produits réfractaires par fluorescence X (SFX) - Méthode des billes fondues 
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 - Analyse chimique des réfractaires - Exigences générales pour les méthodes d'analyse chimique par voie humide, de spectrométrie d'absorption atomique (SAA) et de spectrométrie d'émission atomique avec plasma à couplage inductif (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 - Contrôle des matières premières oxydées et des matériaux de base - Bases générales de travail pour la méthode de fluorescence X (SFX)
  • DIN 51001 Annexe 1:2010-05 - Contrôle des matières premières oxydantes et des matériaux de base - Bases générales de travail pour la méthode de fluorescence X (SFX) - Étude générale des méthodes de désintégration relatives aux groupes de matériaux pour la détermination des échantillons d'essai pour la SFX
  • DIN 51081:2002-12 - Essai des matières premières et matériaux oxydants - Détermination du changement de masse à l'allumage
  • DIN 51418-1:2008-08 - Spectrométrie des rayons X - Analyse par émission de rayons X et par fluorescence X (SFX) - Partie 1 : Définitions et principes de base
  • DIN 51418-2:2015-03 - Spectrométrie des rayons X - Analyse par émission de rayons X et par fluorescence X (SFX) - Partie 2 : Définitions et principes fondamentaux pour les mesures, l'étalonnage et l'évaluation des résultats